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http://cicese.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1007/2868| Determinación de la estructura atómica local de materiales mediante el análisis de la estructura fina asociada a las pérdidas de energía por ionizaci | |
| José Alberto Duarte Moller | |
| Leonel Susano Cota Araiza | |
| Acceso Abierto | |
| Atribución | |
| Espectroscoía de electrones de pérdida de energía, Sólidos - Metodología | |
| Se presenta una descripción de la técnica de pérdidas de energía por ionización electrónica para la determinación de la estructura atómica local de materiales, la cual consiste básicamente en el estudio de la estructura fina asociada a las pérdidas de energía por ionización electrónica. Esta técnica es comunmente conocida como EXELFS (Extended Energy Loss Fine Structure). En este trabajo se han estudiado las distintas estructuras que forma el carbono, a saber: carbón amorfo, grafito altamente orientado, diamante en película delgada y diamante natural. Se analizaron además los sistemas cristalinos PVC (PolyVinlhloride) y PB (PolyEthyleneirradiados con radiación y. El objetivo específico de este trabajo son: (a) la posibilidad de realizar experimentos de EXELFS en modo de reflexión en sistemas no convencionales para esta técnica. (b) Se muestra además que los resultados obtenidos para las posiciones atómicas a primeros vecinos están en buen acuerdo con los respectivos valores cristalográticos de cada sistema. (c) Por otra parte se ha logrado obtener excelentes resultados con un manejo mínimo de los datos experimentales. (d) Finalmente, el uso combinado de PEELS y EXELFS ayuda en gran parte a la caracterización de materiales, dado que se demostró que los espectros PEELS alrededor de la transición K del carbono, cada estructura posee un espectro característico conocido como la huella digital de la estructura y con EXELFS es posible predecir la separación interatómica a primeros vecinos pudiendo, en algunos casos, conocer el número de coordinación y así predecir algún tipo de estructura desconocida. We present a descirption of the Extended Electron Energy Loss Fine Structure technique, used in the determination of the local structure of materials, which is based on the fine structure study, associated to the energy loss by electronic ionization. In this work, have been studied difi'erent structures formed by carbon atoms; amorphous carbon, highly oriented pyrolytic graphite (HOPG), diamond thin film and natural diamond. Cystalline systems of PVC (Poly Vynil Chloride) and PE (Poly Ethylene) irradiated with y radiation, also were analyzed here. Especific objective of this work were: (a) the posibility to perform EXELFS experiments in the reflection mode, using no conventional systems for this type of experiments, (b) fiarthermore shows that the results obtained for the atomic positions of the nearest neighbors are in a good agreement with the respective known crystallographic values of each systems., (c) by other hand were posible obtain exellent results without several proccessing of the experimental raw data, (d) finally, the combinated use of PEELS and EXELFS help in the complete characterization of materials. This have been demosnstrated in the PEELS spectra around the ionization carbon K edge, where each structure is known as the finger print of the structure and with EXELF S, is posible obtain the interatomic spacing and in some cases, the coordination number and stablish the structure of a unknown system. | |
| CICESE | |
| 1996 | |
| Tesis de doctorado | |
| Español | |
| Duarte Moller, J. A. 1996.Determinación de la estructura atómica local de materiales mediante el análisis de la estructura fina asociada a las pérdidas de energía por ionizaci. Tesis de Doctorado en Ciencias. Centro de Investigación Científica y de Educación Superior de Ensenada, Baja California. 119 pp. | |
| OTRAS ESPECIALIDADES FÍSICAS | |
| Aparece en las colecciones: | Tesis - Física de Materiales |
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