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http://cicese.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1007/2946| Determinación de los estados de oxidación del Te en películas de óxido de CdTe con la espectroscopía AES | |
| José Pascual Bartolo Pérez | |
| Juan Luis Peña Chapa | |
| Acceso Abierto | |
| Atribución | |
| Oxidación, Telururo, Cadmio, Efecto Auger | |
| Se analizaron con las espectroscopias AES y XPS películas delgadas amorfas de óxidos de CdTe (a-CdTe:O), crecidas por erosión ionica por radiofrecuencia en un plasma controlado de Argón-óxido nitroso (Ar-N2O). La concentración de oxígeno en las películas depende de la presión parcial de N20, la cual es variada desde 8x10-6 hasta 9x10-4 Torr. Se observa un cambio ligero en la forma del pico Auger de Cd MNN como función del contenido de oxígeno en a-CdTe:O. Este pico se parece al de Cd MNN del CdTe en un extremo, y al de CdTeO3 en el otro. Los picos Auger de Te MNN y O MNN tienen formas similares e intensidades menores en las películas a-CdTe:O saturadas de oxígeno comparadas con la de CdTeO3. Por otro lado, se observa una diferencia larga y gradual en la forma, intensidad y energía en el pico Auger de Te MNN en a-CdTe:O con concentración de oxígeno baja, intermedia y alta (~ 60 % at.). Los diferentes estados de oxidación del Te (Te-2 como en CdTe y Te+4 como en CdTeO3), contribuyen a este cambio como es evidenciado por una simulación con una suma de espectros de CdTe y CdTe03, o por una suma de espectros de a—CdTe:O con contenido de oxígeno bajo y alto. El cambio en el estados de oxidación del telurio, de Te-2 en CdTe a Te+4 en CdTe03, hace que el factor de sensibilidad Auger del Te cambie de 0.69 en CdTe a 0.87 en CdTeO3. Debido a que el estado de oxidación del oxígeno no cambia, su factor de sensibilidad Auger se mantiene constante (~ 0.27) para varios compuestos, tales como CdO, TeO2 y CdTeO3. Amorphous CdTe oxide (a-CdTe:O) thin films were grown by radiofrequency sputtering in a controlled plasma of Argon-nitrous oxide (Ar-N20) and analyzed by AES and XPS spectroscopies. The oxygen concentration in the films depends on the partial pressure of N20, which is assorted from 8x10-6 to 9x10-4 Torr. A slight change of shape in the Cd MNN peak as a fimction of oxygen content in a-CdTe:O is observed. This peak resembles the Cd MNN peak of CdTe, at one extreme, and that of CdTeO3, at the other. The Te MNN and the O KLL peaks have similar shapes and lower intensities for a-CdTe:O oxygen saturated films than those in CdTeO3. On the other hand, there is a large and gradual difference in shape, intensity and energy observed in the Te MNN peak among a-CdTe:0 with low, intermediate and high (~ 60 % at.) concentration of oxygen. The different Te oxidation states (Te-2 as in CdTe and Te+4 as in CdTe03), contribute to this change as evidenced by a simulation with a sum of CdTe and CdTe03 spectra, or by a sum of a- CdTe:O spectra with low and high oxygen content. The change in the oxidation states of tellurium, from Te-2 in CdTe to Te+4 in CdTe03, causes that the Te Auger sensitivity factor changes from 0.69 in CdTe to 0.87 in CdTe03. Due to the fact that the oxygen oxidation state does not change, its Auger sensitivity factor is maintained constant (~ 0.27) for several compounds, such as CdO, T602 and CdTeO3. | |
| CICESE | |
| 1997 | |
| Tesis de doctorado | |
| Español | |
| Bartolo Pérez, J. P. 1997.Determinación de los estados de oxidación del Te en películas de óxido de CdTe con la espectroscopía AES. Tesis de Doctorado en Ciencias. Centro de Investigación Científica y de Educación Superior de Ensenada, Baja California. 63 pp. | |
| OTRAS ESPECIALIDADES FÍSICAS | |
| Aparece en las colecciones: | Tesis - Física de Materiales |
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