Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem:
http://cicese.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1007/3068| Diseño, fabricación y caracterización de películas antirreflectoras de dos y tres capas | |
| Alfonso Serrano Heredia | |
| Heriberto Marquez Becerra | |
| Acceso Abierto | |
| Atribución | |
| Optica,Películas antirreflectoras | |
| En este trabajo se presenta el proceso de diseño, fabricación y caracterización de películas antirreflectoras de dos y tres capas que funcionan en el intervalo visible del espectro. Las películas se diseñan para ser fabricadas usando la técnica de evaporación térmica al vacío en una evaporadora Edwards 306. Además se obtienen los patrones de difracción de rayos X y de películas de dos y tres capas empleando un difractómetro Phylips con un contador Geiger-Muller y se determinan los parámetros de red y el tipo de estructura de los compuestos que forman las películas. Las películas fabricadas se evalúan empleando las especificaciones de control de calidad dadas por las normas militares para películas antirreflectoras. Los aspectos que se analizan son: a) La función antirreflectora de las películas fabricadas a través del parámetro de eficiencia óptica. b) Las propiedades físicas de las películas, por medio de las pruebas de: resistencia a la abrasión, adherencia y resistencia a la humedad. | |
| CICESE | |
| 1991 | |
| Tesis de maestría | |
| Español | |
| Serrano Heredia, A. 1991.Diseño, fabricación y caracterización de películas antirreflectoras de dos y tres capas. Tesis de Maestría en Ciencias. Centro de Investigación Científica y de Educación Superior de Ensenada, Baja California. 107 pp. | |
| OCEANOGRAFÍA | |
| Aparece en las colecciones: | Tesis - Óptica |
Cargar archivos:
| Fichero | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|
| 17431.pdf | 23.56 MB | Adobe PDF | Visualizar/Abrir |