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http://cicese.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1007/3127
Un algoritmo para la simulación de imágenes y patrones de difracción de objetos arbitrarios en microscopía electrónica de alta resolución. | |
Raúl Herrera Becerra | |
Alfredo Gomez | |
Acceso Abierto | |
Atribución | |
Microscopio electrónico de transmisión, Procesamiento de imágenes, Programas de computadoras, Electrones, Difracción, Programas de computadoras | |
En este trabajo se presenta, un programa de computadora para la simulación de patrones de difracción e imágenes de alta resolución de objetos dispersores arbitrarios, en base a la formulación multicapa (multislices) de la teoría dinámica de la difracción de electrones de la cual se incluyen los aspectos más generales. Para tal fin, el objeto se divide en N rebanadas de espesor finito, procediéndose a calcular posteriormente el potencial proyectado de cada una de ellas. Esto último se efectúa aproximando el valor de los coeficientes de dispersión atómico de cada átomo por una suma de cinco gaussianas. Se presenta una tabla con los valores de ajuste para los 98 átomos que se reportan en las tablas cristalográficas de rayos X. el programa permite utilizar diferentes valores para las variables más importantes como son: número de rebanadas, energía de los electrones incidentes, aberración esférica, desenfoque, radio de la apertura, etc. Se presentan además, tres ejemplos que ilustran la versatilidad del programa así como, algunos de los resultados físicos obtenidos y que han sido de gran interés para las personas que trabajan en esas áreas de la física. Finalmente se discuten las ventajas y desventajas del programa, así como también se hacen las sugerencias pertinentes para hacerle mejoras. | |
CICESE | |
1989 | |
Tesis de doctorado | |
Español | |
Herrera Becerra, R. 1989.Un algoritmo para la simulación de imágenes y patrones de difracción de objetos arbitrarios en microscopía electrónica de alta resolución. Tesis de Doctorado en Ciencias. Centro de Investigación Científica y de Educación Superior de Ensenada, Baja California. 103 pp. | |
OTRAS ESPECIALIDADES FÍSICAS | |
Aparece en las colecciones: | Tesis - Física de Materiales |
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