Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem:
http://cicese.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1007/3520| Sistema integral de microscopio de efecto túnel para el estudio de materiales a nivel atómico. Integral system of scanning tunneling microscope for materials study at atomic level | |
| Andres Ivan Oliva Arias | |
| Juan Luis Pefia Chapa | |
| Acceso Abierto | |
| Atribución | |
| Efecto tunel | |
| Se muestran los esfuerzos y las contribuciones realizados en los aspectos de diseño, estudio de materiales y condiciones de trabajo para desarrollar en México el primer sistema integral de microscopía de efecto túnel para el estudio de materiales a nivel atómico. Se discute la metodología utilizada en cada parte del sistema así como los resultados obtenidos. El trabajo comprende la discusión de todos los elementos que intervienen para el funcionamiento del sistema y se hace énfasis en las contribuciones originales realizadas en los aspectos de análisis de materiales para el sistema de aislamiento de vibraciones, mecanismos de aproximación, componentes mecánicos y electrónicos y el estudio sobre las condiciones de estabilidad del circuito de control. Para efectos de calibración, se muestran los resultados obtenidos con este sistema desarrollado mediante la obtención de imágenes con resolución atómica de grafito pirolítico altamente orientado. Se comparan los resultados obtenidos con este sistema con los resultados previamente reportados en la literatura científica. The efforts and contributions made on the aspects of design, materials study and work conditions to develope the first design in Mexico of an integral system of scanning tunneling microscopy (STM) with atomic resolution are presented. This complete work include the explanation of all necessary elements for the system operation and make emphasis on the original contributions realized on the rnaterials analysis for the vibration isolation system, approach mechanisms, rnechanic and electronic components, and a control system study for stability conditions. The results obtained with this system by means of atomic resolution images of highly oriented pyrolitic graphite (HOPG) were used for the calibration of the developed STM integral system. We compare these results obtained with those previously reported in the scientific literature. | |
| CICESE | |
| 1994 | |
| Tesis de doctorado | |
| Español | |
| Oliva Arias, A. I. 1994.Sistema integral de microscopio de efecto túnel para el estudio de materiales a nivel atómico.. Tesis de Doctorado en Ciencias. Centro de Investigación Científica y de Educación Superior de Ensenada, Baja California. 169 pp. | |
| OTRAS ESPECIALIDADES FÍSICAS | |
| Aparece en las colecciones: | Tesis - Física de Materiales |
Cargar archivos:
| Fichero | Tamaño | Formato | |
|---|---|---|---|
| 103161.pdf | 25.75 MB | Adobe PDF | Visualizar/Abrir |