Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem:
http://cicese.repositorioinstitucional.mx/jspui/handle/1007/311
Detector paramétrico a nivel sub-pixel de esquinas múltiples y blancos retro-reflejantes Parametric sub-pixel multi-corner detector and targets | |
Eddie Helbert Clemente Torres | |
GUSTAVO OLAGUE CABALLERO | |
Acceso Abierto | |
Atribución | |
Detector de esquinas,Sub-pixel,Modelado paramétrico | |
La detección de esquinas y blancos retro-re?ejantes es un problema común en áreas de Visión Arti?cial y Fotogrametría, ya que estos puntos determinan información necesaria e imprescindible para solución de problemas tan complejos como: análisis de formas y escenas, reconocimiento de objetos, detección de movimiento, algoritmos de correspondencia entre dos o más imágenes, reconstrucción tridimensional y calibración de cámaras entre otros. Mientras más certera y precisa es la ubicación de esquinas y blancos retro-re?ejantes, la calidad de los procesos de más alto nivel son mejorados notablemente. Este trabajo propone un detector preciso de esquinas múltiples y un detector paramétrico de blancos retro-re?ejantes a nivel sub-pixel. Ambos detectores modelan la región donde se encuentra ubicado el punto de estudio y sus características geométricas y físicas a partir de una expresión analítica. Dicha expresión se ajusta a la imagen desde el punto de vista de un problema de optimización, el cual es resuelto con un algoritmo genético. The corner and retro-re?ective targets detection are common problems in arti?cial vision and photogrammetry, both of them aimed detection within subpixel resolution. They have been used to solve complex problems such as: forms and scenes analysis, reconstruction and recognition, tracking, algorithms for correspondence between two or more images, three-dimensional reconstruction and computing camera calibration, among others. The great deal of e?ort has been spent in the location of the corners and retro-re?ective targets because its precision a?ects directly on the quality of high level processes. This work introduces a high-accurate parametric multiple corner detector and a new parametric retro-re?ective target detector. The basic idea is to propose a parametric model and then ?t the model directly to image intensities. The optimization problem is solved by a genetic algorithm. | |
CICESE | |
2006 | |
Tesis de maestría | |
Español | |
Clemente Torres,E.H.2006.Detector paramétrico a nivel sub-pixel de esquinas múltiples y blancos retro-reflejantes.Tesis de Maestría en Ciencias. Centro de Investigación Científica y de Educación Superior de Ensenada, Baja California.xv, 262 pp. | |
CIENCIA DE LOS ORDENADORES | |
Aparece en las colecciones: | Tesis - Ciencias de la Computación |
Cargar archivos:
Fichero | Descripción | Tamaño | Formato | |
---|---|---|---|---|
173121.pdf | Versión completa de la tesis | 6.88 MB | Adobe PDF | Visualizar/Abrir |