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Resultados por ítem:
Fecha de publicación | Título | Tipo de publicación/ Tipo de recurso | Autor(es) | Fecha de depósito |
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2000 | Cracterización por XPS y HRTEM de películas delgadas de siliciuros de Co-Ni | Tesis de doctorado | Manuel García Méndez | - |
2003 | Crecimiento y caracterización de películas delgadas ferroeléctricas de Pb(Zr0.53Ti0.47)O3 depositadas por la técnica de erosión iónica a altas presiones de oxígeno | Tesis de doctorado | Oscar Blanco Alonso | - |